Apparative Ausstattung

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Abbildung von Oberflächen, Charakterisierung nanomechanischer Eigenschaften, nanoskalig aufgelöste Ermittlung viskoelastischer und thermischer Eigenschaften, nanoskalig aufgelöste IR-Spektroskopie

Hersteller:

Bruker Nano GmbH

Tailored Thermosets & Biomaterials

Laterale Auflösung

bis zu 2 nm

Max. Probendurchmesser

150 mm

x/y-Scanbereich

300 nm bis 100 µm

Wesentliche technische Parameter

Parameter	Wert
Laterale Auflösung	bis zu 2 nm (abhängig von der Messspitze)
x/y-Scanbereich	300 nm bis 100 µm
z-Scanbereich	10 µm
Max. Probendurchmesser	150 mm
Max. Probendicke	70 mm
Heizung	RT-250 °C
Mess-Modi	AFM-Standardmodi (Tapping Mode, Contact Mode, Lateral Force Microscopy, Force Volume ...), Peak Force Tapping, Peak Force QNM, nano-DMA, photothermisches AFM-IR (Wellenzahlbereich: 1850-750 cm-1), nano-TA (RT-350 °C)